Ogólna charakterystyka

Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową HR-FE-SEM SU8230 firmy HITACHI z przystawką cryo do badania próbek.

Specyfikacja techniczna

• Napięcie przyspieszające regulowane w zakresie 0,01 – 30kV
• System chłodzenia ciekłym azotem pozwalający na uzyskiwanie obrazów SE, BSE i BF-STEM
• Zdolność rozdzielcza: 1,1 nm @1kV, 0,8 nm @ 15kV, 0,8 nm @ 30kV w trybie BF-STEM, powiększenie: od 20 do 1 000 000
• Zakres ruchu stolika w osi X: 0 ÷ 110 mm, w osi Y: 0 ÷ 110 mm oraz osi Z: 1,5 ÷ 40 mm, nachylenie: -5° ÷ +70°, obrót: 360°
• Zapis cyfrowy w rozdzielczości 5120 x 3840 pikseli (19,7 MP)
• Max. średnica próbki: 100 mm

Zastosowanie

• Badanie próbek z materiałów polimerowych, ceramicznych, kompozytowych oraz próbek materiału biologicznego umieszczonego na powierzchni biomateriałów polimerowych, ceramicznych i kompozytowych